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產品概述：
本測試架適用于電子智能鎖PCBA主板、成品指紋鎖老化測試作帶載老化測試。老化架負載和老化架控制器均采用MCU設計，整機操作簡單快捷，性能穩定可靠，是老化電子智能門鎖的理想選擇。
主要規格參數：
型號 | 電壓范圍 | 電流范圍 | 功率 | 老化總數量 | 層數 | 每層老化數量 | 負載類型 |
GS-FETR140C | DC：0～5V | DC:0.1～3A | 30W | 100個 | 5 | 20個 | CC/CV |
GS-FETR140D | DC:0～10V | DC:0.1～5A | 30W | 200個 | 8 | 25個 | CC/CV |
GS-FETR196A | DC：0～5V | DC:0.1～3A | 75W | 100個 | 5 | 20個 | CC/CV |
GS-FETR140B | DC:0～10V | DC:0.1～5A | 75W | 200個 | 8 | 25個 | CC/CV |
GS-FETR112A | DC：0～5V | DC:0.1～3A | 150W | 100個 | 5 | 20個 | CC/CV |
GS-FETR112B | DC:0～10V | DC:0.1～5A | 150W | 200個 | 8 | 25個 | CC/CV |
GS-FETR70C | DC：0～5V | DC:0.1～3A | 300W | 100個 | 5 | 10個 | CC/CV |
GS-FETR70D | DC:0～10V | DC:0.1～5A | 300W | 200個 | 8 | 25個 | CC/CV |
